Detail předmětu
Speciální praktikum I
FSI-TSAk. rok: 2024/2025
Praktikum obsahuje náročné experimentální úkoly, které vyžadují komplexní přípravu studenta k řešení zadaného tématu. Úlohy zahrnují oblast vakuové fyziky a techniky, světelné optiky, iontové a elektronové optiky, fyzikálních technologií a měření vlastností a analýzy materiálů.
Jazyk výuky
čeština
Počet kreditů
4
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Vstupní znalosti
Atomová fyzika, fyzika pevných látek, kvantová fyzika, statistická fyzika a termodynamika, vakuová fyzika a technologie, geometrická a vlnová optika.
Pravidla hodnocení a ukončení předmětu
Hodnocení bude provedeno na základě předložených protokolů z měření a následné diskuse získaných výsledků. Účast je povinná, v případě závažných důvodů lze některá z měření po individuální domluvě nahradit.
Přítomnost na cvičení je povinná a je sledována vyučujícím. Způsob nahrazení zmeškané výuky ve cvičení bude stanovena vyučujícím na základě rozsahu a obsahu zmeškané výuky.
Přítomnost na cvičení je povinná a je sledována vyučujícím. Způsob nahrazení zmeškané výuky ve cvičení bude stanovena vyučujícím na základě rozsahu a obsahu zmeškané výuky.
Učební cíle
Studenti nabudou praktickou zběhlost při experimentální činnosti, získávání a zpracování výsledků a jejich následné analýze a interpretaci.
Schopnost samostatně experimentovat a komunikovat výsledky na odpovídající úrovni písemnou a verbální formou.
Schopnost samostatně experimentovat a komunikovat výsledky na odpovídající úrovni písemnou a verbální formou.
Základní literatura
BROŽ, J.: Základy fyzikálních měření
ECKERTOVÁ, L.: Diagnostics of Thin Films
ECKERTOVÁ, L.: Diagnostics of Thin Films
Doporučená literatura
Autoři jednotlivých úloh: sylaby k jednotlivým úlohám
Zařazení předmětu ve studijních plánech
Typ (způsob) výuky
Laboratorní cvičení
39 hod., povinná
Vyučující / Lektor
Osnova
Na výuce se podílejí také studenti doktorského studia.
Rastrovací elektronová mikroskopie.
Rastrovací tunelovací mikroskopie.
Mikroskopie atomárních sil.
Rentgenová difrakční spektroskopie.
Měření transportních vlastností grafenu.
Měření magnetické susceptibility.
Rastrovací elektronová mikroskopie.
Rastrovací tunelovací mikroskopie.
Mikroskopie atomárních sil.
Rentgenová difrakční spektroskopie.
Měření transportních vlastností grafenu.
Měření magnetické susceptibility.