Detail předmětu

Speciální praktikum I

FSI-TSAk. rok: 2024/2025

Praktikum obsahuje náročné experimentální úkoly, které vyžadují komplexní přípravu studenta k řešení zadaného tématu. Úlohy zahrnují oblast vakuové fyziky a techniky, světelné optiky, iontové a elektronové optiky, fyzikálních technologií a měření vlastností a analýzy materiálů.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

Garant předmětu

doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D.

Zajišťuje ústav

Ústav fyzikálního inženýrství (ÚFI)

Vstupní znalosti

Atomová fyzika, fyzika pevných látek, kvantová fyzika, statistická fyzika a termodynamika, vakuová fyzika a technologie, geometrická a vlnová optika.

Pravidla hodnocení a ukončení předmětu

Hodnocení bude provedeno na základě předložených protokolů z měření a následné diskuse získaných výsledků. Účast je povinná, v případě závažných důvodů lze některá z měření po individuální domluvě nahradit.
Přítomnost na cvičení je povinná a je sledována vyučujícím. Způsob nahrazení zmeškané výuky ve cvičení bude stanovena vyučujícím na základě rozsahu a obsahu zmeškané výuky.

Učební cíle

Studenti nabudou praktickou zběhlost při experimentální činnosti, získávání a zpracování výsledků a jejich následné analýze a interpretaci.
Schopnost samostatně experimentovat a komunikovat výsledky na odpovídající úrovni písemnou a verbální formou.

Základní literatura

BROŽ, J.: Základy fyzikálních měření
ECKERTOVÁ, L.: Diagnostics of Thin Films

Doporučená literatura

Autoři jednotlivých úloh: sylaby k jednotlivým úlohám

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program B-FIN-P bakalářský 3 ročník, letní semestr, povinný

  • Program C-AKR-P celoživotní vzdělávání v akr. stud. programu

    specializace CLS , 1 ročník, letní semestr, volitelný

Typ (způsob) výuky

 

Laboratorní cvičení

39 hod., povinná

Vyučující / Lektor

Ing. Katarína Rovenská
Ing. Petr Liška

Osnova

Na výuce se podílejí také studenti doktorského studia.

Rastrovací elektronová mikroskopie.
Rastrovací tunelovací mikroskopie.
Mikroskopie atomárních sil.
Rentgenová difrakční spektroskopie.
Měření transportních vlastností grafenu.
Měření magnetické susceptibility.