Detail předmětu

X-ray structure analysis methods

CEITEC VUT-DS206AAk. rok: 2024/2025

Jazyk výuky

angličtina

Zajišťuje ústav

Přírodovědecká fakulta (PřF MU)

Základní literatura

B.Fultz, J.M.Howe, Transm. Electron Microscopy and Difractometry of Materials(Springer 2001)
C. Suryanarayana, M. G. Norton,X-Ray Diffraction (Springer 1998)
Y. Waseda, et. al., X-Ray Diffraction Crystallography: Introduction, Examples and Solved Problems, 2011