Detail předmětu

Spektroskopické metody pro nedestruktivní diagnostiku

FEKT-DPC-FY2Ak. rok: 2025/2026

Předmětem semináře jsou metody, zabývající se popisem, experimentálním sledováním a lokalizací poruch. Hlavní pojmy: transportní a stochastické procesy, nedestruktivní diagnostika, šumová diagnostika, částečné výboje, akustická emise, dielektrická relaxační spektroskopie, mikroskopické techniky, spektroskopie, luminiscence.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

4

Zajišťuje ústav

Vstupní znalosti

VŠ studium v elektrotechnických, materiálových, fyzikálních a chemických oborech ukončené získáním titulu Ing. nebo ekvivalentním způsobem.

Pravidla hodnocení a ukončení předmětu

0-20 b projekt
0-80 b závěrečná zkouška

Učební cíle

Cílem předmětu je popis a analýza transportních, relaxačních a stochastických mechanismů v pevných látkách. Studenti se seznámí ze základními metodami studia těchto procesů a se základmíni metodami jejich měření. Obsahem semináře však není ani tak pouhé získání znalostí, jako spíše hlubší porozumění fyzikální podstatě vybraných metod a získání schopnosti prakticky tyto metody používat a dále je rozvíjet na vyšším stupni.
Po absolvování uvedeného kursu by studenti měli umět rozlišit jednotlivé typy transportních procesů, rozumět fyzikálním mechanismům fluktuačních procesů a nadbytečného transportu nosičů. Dále by měli mít přehled o základních diagnostických metodách a měli by umět pro studium konkrétního problému zvolit a použít vhodné diagnostické techniky. Na základě těchto nástrojů by studenti měli umět navrhovat a vyvíjet diagnostické metody pro jednotlivé konkrétní aplikace.

Základní literatura

Frank, H.: Fyzika a technika polovodičů. SNTL, 1990. (CS)
Kittel, Ch.: Introduction to Solid State Physics. 7th ed. Wiley, 1996. (EN)
Leng, Y.: Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods. Wiley, 2009, ISBN 978-0-470-82299-9. (EN)
Réfrégier, P.: Noise Theory and Application to Physics. From Fluctuations to Information. Springer, 2004. (EN)
Sze, S.M., NG, Kwok, K. Physics of Semiconductor Devices. 3rd edittion, Wiley, 2006. (EN)
Workman, J., Springsteen, A.: Applied Spectroscopy – A Compact Reference for Practitioners, Elsevier Inc., 1998, ISBN 978-0-12-764070-9. (EN)

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program DPC-EKT doktorský 0 ročník, letní semestr, povinně volitelný
  • Program DPC-KAM doktorský 0 ročník, letní semestr, povinně volitelný
  • Program DPC-MET doktorský 0 ročník, letní semestr, povinně volitelný
  • Program DPC-SEE doktorský 0 ročník, letní semestr, povinně volitelný
  • Program DPC-TEE doktorský 0 ročník, letní semestr, povinně volitelný
  • Program DPC-TLI doktorský 0 ročník, letní semestr, povinně volitelný

Typ (způsob) výuky

 

Seminář

39 hod., povinná

Vyučující / Lektor