Detail předmětu

Radioelektronická měření

FEKT-MREMAk. rok: 2009/2010

Definice základních chyb měření, jejich statistické vyhodnocení. Prvky automatizace měření, základní principy jednotlivých programů. Přesná měření, definice stálosti parametrů. Moderní vysokofrekvenční měřicí technika. Skalární a vektorová měření. Měření impedance.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

6

Garant předmětu

Ing. Jiří Dřínovský, Ph.D.

Zajišťuje ústav

Ústav radioelektroniky (UREL)

Výsledky učení předmětu

Studenti se seznámí se základními měřicími metodami požívanými, s analýzou naměřených dat a návrhem moderních automatizovaných měřicích systémů.

Prerekvizity

Jsou požadovány znalosti na úrovni bakalářského studia a platné přezkoušení pro kvalifikaci pracovníků pro samostatnou činnost (ve smyslu §6 Vyhlášky).

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Metody vyučování závisejí na způsobu výuky a jsou popsány článkem 7 Studijního a zkušebního řádu VUT.

Způsob a kritéria hodnocení

Podmínky pro úspěšné ukončení předmětu stanoví každoročně aktualizovaná vyhláška garanta předmětu.

Osnovy výuky

Definice chyb měření a jejich základní vyhodnocení. Zásady správného měření.
Automatizovaná měřicí pracoviště.
Agilent VEE.
Základní osciloskopická měření.
Měření kmitočtu.
Spektrální měření.
Skalární měření na skalárních analyzátorech.
Vektorová měření.
Měření impedance.
Speciální měření (six-port, …).
Měřicí postupy pro měření rušení.
Měřicí karty pro PC.

Učební cíle

Seznámit studenty s principy základních měřicích metod používaných při měřeních ve vysokofrekvenční technice. Seznámit studenty s využitím různých programových prostředí vhodných pro tvorbu automatizovaných měřicích systémů.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění stanoví každoročně aktualizovaná vyhláška garanta předmětu.

Základní literatura

HAASZ, V., ROZTOČIL, J., NOVÁK, J., Číslicové měřicí systémy, ČVUT Praha 2000 (CS)

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program EEKR-M magisterský navazující

    obor M-EST , 2. ročník, letní semestr, volitelný oborový

  • Program EEKR-CZV celoživotní vzdělávání (není studentem)

    obor ET-CZV , 1. ročník, letní semestr, volitelný oborový

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

26 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Ing. Jiří Dřínovský, Ph.D.

Osnova

Definice chyb měření a jejich základní vyhodnocení. Zásady správného měření.
Automatizovaná měřicí pracoviště.
Agilent VEE.
Základní osciloskopická měření.
Měření kmitočtu.
Spektrální měření.
Skalární měření na skalárních analyzátorech.
Vektorová měření.
Měření impedance.
Speciální měření (six-port, …).
Měřicí postupy pro měření rušení.
Měřicí karty pro PC.

Laboratorní cvičení

39 hod., povinná

Vyučující / Lektor

Ing. Jiří Dřínovský, Ph.D.
Ing. Zdeněk Kejík
doc. Ing. Jiří Šebesta, Ph.D.

Osnova

Seznámení s grafickým programovým prostředím Agilent VEE.
Porovnání vlastností spektrálního analyzátoru a měřicího přijímače, měření kmitočtových charakteristik.
Měření na skalárním analyzátoru.
Demodulace QPSK.
Přesná měření, měření stálosti parametrů.
Základní měření na osciloskopu.
Měření na základní PC kartě.