Detail předmětu

Počítačová podpora metrologie

FSI-XPP-KAk. rok: 2009/2010

Řízení jakosti na základě statistických metod a metod na podporu jakosti v souladu s ČSN ISO. Teorie a aplikace metod SPC (statistická analýza a regulace výrobního procesu), FMEA (analýza vlivu a možnosti chyb), Paretovy analýzy atd. Uvedené techniky řízení jakosti pro pracovníky ve funkci manažer jakosti. Přehled měřicích a kontrolních prostředků a metod ve strojírenské metrologii, zejména pro oblast geometrických veličin. Problematika třísouřadnicových měření a podpora metrologických procesů počítačem.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

5

Výsledky učení předmětu

Kurz umožní získat znalosti pro praktickou aplikaci zavádění systémů pro
zabezpečování jakosti ve strojírenském podniku. Dále studenti získají zna-
losti z hlediska užití statistických metod pro podporu jakosti a základ-
ních nástrojů a technik. Praktická měření a vyhodnocování měřicích pro-
středků pro ooblasti geometrických veličin.

Prerekvizity

Základní znalost systému Microsoft Windows, Microsoft Word a Excel, znalost Internetu a libovolného 2D grafického systému.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Metody vyučování závisejí na způsobu výuky a jsou popsány článkem 7 Studijního a zkušebního řádu VUT.

Způsob a kritéria hodnocení

Zápočet:prezence, zápočtový test znalostí
Zkouška: Praktický písemný test a ústní zkouška

Učební cíle

Cílem je seznámit studenty s problematikou jakosti a metrologie v rámci
komunitárního práva EU a současného stavu v ČR. Jedná se zejména o oblast
technické normalizace, metrologie a zkušebnictví. Jsou řešeny základní
otázky TQM (Total Quality Management) a praktické problémy aplikací norem
ČSN EN ISO řady 9000, 45000 a 14000. Součástí kurzu je detailní rozbor mě-
ření a měřicích metod pro oblast geometrických veličin.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Praktický písemný test po sedmi týdnech výuky

Základní literatura

V. Chudý V.: Meranie technických velicin
B. Bowerman.: Applied statistics

Doporučená literatura

V.Chudý.: Meranie technických veličín

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program M2A-K magisterský navazující

    obor M-MŘJ , 1. ročník, zimní semestr, povinně volitelný

Typ (způsob) výuky

 

Konzultace

17 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Osnova

1. Úvod do počítačové statistiky
2. Popisná statistika pro měření
3. Pravděpodobnost a náhodné proměnné
4. Rozdělení vzorků pro měření a jejich počítačové zpracování
5. Konfidenční intervaly
6. Testování hypotéz
7. Procesy vylepšení využitím řídících grafů
8. Jednoduchá lineární regresní analýza a její aplikace v metrologii
9. Statistické tabulky pro počítačové měření
10.Testy Chí-kvadrát
11. Analýza rozptylu a počítačové měření
12. ANOVA
13. Využití maticového počtu (algebry) pro provedení regresních výpočtů

Řízené samostudium

35 hod., povinná

Vyučující / Lektor

Osnova

Statistická interpretace měření - Normální rozdělení, metodologie SPC, Alternativní metodologie "Precontrol", Metodologie Quality Journal, Paretova analýza, Infračervené kamerové systémy a jejich analýza, měření struktury povrchu, Statistická interpretace měření Chi-kvadrát rozdělení