čeština

Student získá přehled o problematice diagnostiky elektrotechnických materiálů a zařízení, o zásadách a organizaci zkušebnictví v ČR. Bude obeznámen s problematikou zkoušek souvisejících se zaváděním nového elektrotechnického výrobku na trh. V praxi bude schopen navrhnout vhodnou diagnostickou metodu pro řešení konkrétního problému.

Jsou požadovány znalosti na úrovni středoškolského studia.

Metody vyučování závisejí na způsobu výuky a jsou popsány článkem 7 Studijního a zkušebního řádu VUT.

Podmínky zápočtu:
Aktivní účast na cvičeních. Odevzdání semestrální práce.
Závěrečná práce.

Základní pojmy technické diagnostiky, přehled metod. Postavení technické diagnostiky v praxi. Strategie výběru metody technické diagnostiky.
Elektrické měřicí metody v diagnostice polovodičových materiálů a struktur. Metody stanovení koncentrace a koncentračních profilů příměsí.
Stejnosměrné a střídavé elektrické měřicí metody v diagnostice elektroizolačních systémů. Zkoušky vysokým napětím, vyhodnocení zkoušek.
Zkoušky bezpečnosti elektrických předmětů. Zkoušky klimatické a mechanické odolnosti elektrických předmětů a zařízení.
Zkoušky mechanických vlastností - přehled zkoušek. Zkoušky tvrdosti. Metody akustické a elektromagnetické diagnostiky.
Diagnostika a zkušebnictví. Povinnosti výrobců, dovozců a distributorů při uvádění výrobků na trh. Posuzování shody výrobků.
Fyzikální metody stanovení struktury a složení materiálů, materiálových soustav a struktur. Metody s rastrující sondou, SIMS. Citlivosti a meze rozlišení metod.
Přehled metod optické mikroskopie. Metody měření tloušťky tenkých vrstev, mechanicko elektrická měření, elipsometrie.
Elektronová mikroskopie rastrovací a transmisní. Diagnostika struktur na základě detekce jednotlivých typů detekovaných signálů.
Speciální metody rastrovací elektronové mikroskopie. Napěťový a magnetický kontrast, metoda EBIC, nízkoenergiová a nízkovakuová elektronová mikroskopie.
Difraktometrické metody. Rentgenová difraktografie, rentgenová difrakční topografie, elektronová difraktografie.
Spektroskopické metody, atomová a molekulová spektroskopie. Absorpční, emisní, rentgenová, fotoelektrická a elektronová spektroskopie. Hmotnostní spektroskopie.
Zpracování výsledků měření. Chyby měření, ukazatelé přesnosti.

Cílem předmětu je seznámit studenty se základními pojmy a metodami z oblasti diagnostiky elektrotechnických materiálů a zařízení, se zásadami a organizací zkušebnictví v ČR. Studenti se v přehledu seznámí s elektrickými a mechanickými zkouškami, zkouškami bezpečnosti a klimatické odolnosti. Získají základní informace o fyzikálních metodách pro stanovení struktury a složení diagnostikovaných objektů.

Povinná účast ve výuce.

Frank,L.,Král,J.: Metody analýzy povrchů. Iontové, sondové a speciální metody. Academia, Praha, 2002 (CS)
Jirák, J., Havlíček, S., Rozsívalová, Z.: Diagnostika a zkušebnictví. Elektronické texty, Brno 2002. (CS)

Connor,D.J., Sexton,B.A., Smart,R.C.: Surface analysis methods in materials science, Springer Verlag Berlin, 2003 (EN)