Detail publikace

Souhrnná výzkumná zpráva k HS: Vývoj nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu

GRMELA, L.

Originální název

Souhrnná výzkumná zpráva k HS: Vývoj nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu

Anglický název

Souhrnná výzkumná zpráva k HS: Vývoj nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu

Typ

souhrnná výzkumná zpráva - smluv. výzkum

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

VUT FEKT se dohodlo s firmou SCI CLL On Semiconductor na vývoji nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu. Součástí je návrh zařízení umožňující zjišťování a ověření parametrů pro několik vzorků současně.

Anglický abstrakt

VUT FEKT se dohodlo s firmou SCI CLL On Semiconductor na vývoji nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu. Součástí je návrh zařízení umožňující zjišťování a ověření parametrů pro několik vzorků současně.

Klíčová slova

reliability parameter, temperature measurement, defect,localization states, agening

Klíčová slova v angličtině

reliability parameter, temperature measurement, defect,localization states, agening

Autoři

GRMELA, L.

Vydáno

31. 7. 2012

Místo

Brno

Strany od

1

Strany do

5

Strany počet

5

BibTex

@misc{BUT105361,
  author="Lubomír {Grmela} and Robert {Macků} and Jiří {Majzner} and Miloš {Chvátal}",
  title="Souhrnná výzkumná zpráva k HS: Vývoj nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu",
  year="2012",
  pages="1--5",
  address="Brno",
  note="summary research report - contract. research"
}