Detail publikace

Charakterizace kontaktních vrstev konektorů

WASSERBAUER, J.

Originální název

Anglický název

Characterization of contact layers of connectors

Typ

zpráva odborná

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Tloušťka kontaktních vrstev (cínu a stříbra) byla stanovena pomocí strukturní analýzy.

Anglický abstrakt

The thickness of contact layer (tin and silver) was determined using of structural analysis.

Klíčová slova

Cín, stříbro, vrstvy, strukturní analýza.

Klíčová slova v angličtině

Tin, silver, layers, structural analysis.

Autoři

WASSERBAUER, J.

Vydáno

29. 11. 2012

Strany od

Strany do

Strany počet

BibTex

@techreport{BUT106319,
  author="Jaromír {Wasserbauer}",
  title="Charakterizace kontaktních vrstev konektorů",
  year="2012",
  pages="1--18"
}

VUT