Detail publikace

Applying Feedback Control in Atomic Force Microscopy.

HROUZEK, M.

Originální název

Applying Feedback Control in Atomic Force Microscopy.

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

The aims of the presented paper are to make a concise state-of-art of the most commonly used feedback loops for the AFM control. Moreover, to propose a feedback control loops in order to minimize the effect of the thermal noise on the weak forces measurements and improve manipulation abilities of the AMF.

Klíčová slova v angličtině

Feedback Control, Atomic Force Microscopy

Autoři

HROUZEK, M.

Rok RIV

2004

Vydáno

29. 4. 2004

Nakladatel

VUT Brno

Místo

Brno

Strany od

200

Strany do

204

Strany počet

5

BibTex

@inproceedings{BUT10882,
  author="Michal {Hrouzek}",
  title="Applying Feedback Control in Atomic Force Microscopy.",
  booktitle="Sborník pracíkonference a souteze Student EEICT 2004",
  year="2004",
  pages="5",
  publisher="VUT Brno",
  address="Brno"
}