funkční vzorek

Zařízení umožňuje analyzovat prvkové složení vzorku a to především koncentraci vodíku a některých lehkých atomů (C,O) s vysokou povrchovou citlivostí. Zařízení se skládá ze zdroje iontů (He, Ne apod.), ultravakuového (UHV) manipulátoru se vzorkem, detektoru rozptýlených a vyražených atomů a zdroje atomárního vodíku. Vodík přítomný ve vzorku je vyrážen nízkoenergiovými ionty Ne následně letí driftovou trubicí k detektoru. Jeho energie je analyzována na základě měření jeho doby letu (ToF). Atomární zdroj vodíku umožňuje řízenou depozici vodíku na vzorek.

Zařízení; detekce vodíku; LEIS; SARS; rozptyl; ToF-SARS

10. 9. 2014

Laboratoř povrchů a tenkých vrstev, A2/518, Technická 2, Brno

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek

http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2014-10/