Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
DANĚK, L.
Originální název
Kalibrace vychylovacího pole litografu řady BS600 využitím režimu REM
Anglický název
Calibration of the deflection field of the E-beam lithograph BS600 series using SEM mode
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
čeština
Originální abstrakt
Text se zabývá kalibrací vychylovacího pole litografu BS600 a BS601 upraveného v rámci projektu Elito s využitím režimu rastrovacího elektronového mikroskopu.
Anglický abstrakt
Text describes a new method for the calibration of geometric distortion of deflection field. This method uses a regime of scanning electron microscope (SEM), which was added to electron beam lithographs BS600 and BS601 in project ELITO. The main advantage of this method was the reduction of the time required to calibrate the lithograph.
Klíčová slova v angličtině
E-beam Lithography
Autoři
Rok RIV
2004
Vydáno
30. 1. 2004
Nakladatel
Ústav přístrojové techniky AV ČR, Brno
Místo
Brno
ISBN
80-239-2268-8
Kniha
Sborník prací doktorandů prezentovaných na Semináři oddělení Elektronové optiky na počátku roku 2004
Strany od
15
Strany do
18
Strany počet
4
BibTex
@inproceedings{BUT11253, author="Lukáš {Daněk}", title="Kalibrace vychylovacího pole litografu řady BS600 využitím režimu REM", booktitle="Sborník prací doktorandů prezentovaných na Semináři oddělení Elektronové optiky na počátku roku 2004", year="2004", pages="4", publisher="Ústav přístrojové techniky AV ČR, Brno", address="Brno", isbn="80-239-2268-8" }