Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
HRNČIŘÍK, P., MULLEROVÁ, I.
Originální název
Very low energy scanning transmission electron microscopy
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
Combined SLEEM/scanning low energy transmission electron microscope (SLETEM) uses a cathode lens to decelerate the electron beam just in front of the specimen surface, and is able to reach a resolution of a few nm even at a landing energy of a few eV. This provides the flexibility to investigate the transmission of electrons through thin samples at electron energies as low as 1 eV.
Klíčová slova
SLETEM, SLEEM, IMFP, SEM,
Autoři
Vydáno
1. 1. 2004
Nakladatel
EMC 2004
Místo
Antwerpy, Belgie
Strany od
P02
Strany počet
2