Detail publikace
Microscale localization and detection of defects in crystalline silicon solar cells
TOMÁNEK, P. ŠKARVADA, P. MACKŮ, R. SOBOLA, D. BRÜSTLOVÁ, J. GRMELA, L.
Originální název
Microscale localization and detection of defects in crystalline silicon solar cells
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
Silicon remains the only material that is well-researched in both bulk and thin-film configurations. Monocrystalline silicon solar cells are the photovoltaic devices with highest efficiency, but they content a variety of tiny local defects decreasing the efficiency. So the novel method containing electric and optical measurement is presented.
Klíčová slova
defect, silicon, solar cell, localization, detection
Autoři
TOMÁNEK, P.; ŠKARVADA, P.; MACKŮ, R.; SOBOLA, D.; BRÜSTLOVÁ, J.; GRMELA, L.
Rok RIV
2015
Vydáno
17. 8. 2015
Nakladatel
DGaO
Místo
Erlangen, Německo
ISSN
1614-8436
Periodikum
DGaO-PROCEEDINGS
Ročník
2015
Číslo
2015
Stát
Spolková republika Německo
Strany od
1
Strany do
2
Strany počet
2
URL
BibTex
@article{BUT116796,
author="Pavel {Tománek} and Pavel {Škarvada} and Robert {Macků} and Dinara {Sobola} and Jitka {Brüstlová} and Lubomír {Grmela}",
title="Microscale localization and detection of defects in crystalline silicon solar cells",
journal="DGaO-PROCEEDINGS",
year="2015",
volume="2015",
number="2015",
pages="1--2",
issn="1614-8436",
url="http://www.dgao-proceedings.de"
}