Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail produktu
ŠULC, D. ŠTEFKO, M. WERTHEIMER, P. NOVÁČEK, Z.
Typ produktu
funkční vzorek
Abstrakt
Jedná se o zvětšený funkční model mikroskopu s rastrující sondou. Model je určený pro výukové a prezentační účely. Celý vývoj hardwaru, elektroniky i softwaru výukového modelu byl proveden na ÚFI. Model mikroskopu je uzpůsoben pro měření analogie AFM, ale díky vlastnímu vývoji zařízení lze implementovat analogie dalších technik SPM. Ve stávajícím stavu model dovoluje demonstraci měření v kontaktním módu i v tzv. tapping módu, a to jak v režimu konstantní výšky, tak v režimu konstantní interakce mezi vzorkem a hrotem. Model mikroskopu je vestavěn do přenosného kufříku což dovoluje snadný transport zařízení na místo prezentace. Řízení procesu měření a zobrazování měřených dat je prováděno pomocí jednodeskového počítače vestavěného v zařízení, takže pro demonstrační měření je navíc potřebné pouze externí zobrazovací zařízení.
Klíčová slova
rastrovací sondový mikroskop; model; výuka; prezentace; princip; polohovací stolek
Datum vzniku
4. 8. 2015
Umístění
FSI VUT v Brně, Ústav fyzikálního inřenýrsví
Možnosti využití
K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence
Licenční poplatek
Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek
www
http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2015-05/