Detail produktu

Výukový model mikroskopu SPM

ŠULC, D. ŠTEFKO, M. WERTHEIMER, P. NOVÁČEK, Z.

Typ produktu

funkční vzorek

Abstrakt

Jedná se o zvětšený funkční model mikroskopu s rastrující sondou. Model je určený pro výukové a prezentační účely. Celý vývoj hardwaru, elektroniky i softwaru výukového modelu byl proveden na ÚFI. Model mikroskopu je uzpůsoben pro měření analogie AFM, ale díky vlastnímu vývoji zařízení lze implementovat analogie dalších technik SPM. Ve stávajícím stavu model dovoluje demonstraci měření v kontaktním módu i v tzv. tapping módu, a to jak v režimu konstantní výšky, tak v režimu konstantní interakce mezi vzorkem a hrotem. Model mikroskopu je vestavěn do přenosného kufříku což dovoluje snadný transport zařízení na místo prezentace. Řízení procesu měření a zobrazování měřených dat je prováděno pomocí jednodeskového počítače vestavěného v zařízení, takže pro demonstrační měření je navíc potřebné pouze externí zobrazovací zařízení.

Klíčová slova

rastrovací sondový mikroskop; model; výuka; prezentace; princip; polohovací stolek

Datum vzniku

4. 8. 2015

Umístění

FSI VUT v Brně, Ústav fyzikálního inřenýrsví

Možnosti využití

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

Licenční poplatek

Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek

www