Detail publikace

Přivítejte ve výuce mikroskopy se skenující sondou

HÁJKOVÁ, Z. FEJFAR, A. LEDINSKÝ, M. PÍČ, V. KŘÍŽEK, F. ŠULC, D. NOVÁČEK, Z. WERTHEIMER, P.

Originální název

Přivítejte ve výuce mikroskopy se skenující sondou

Anglický název

Introduce Scanning Probe Microscopy into Education

Typ

článek v časopise ve Web of Science, Jimp

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Mikroskopie skenující sondou (scanning probe microscopy, SPM; též rastrovací sondová či hrotová mikroskopie) patří mezi moderní mikroskopické metody běžně používané ve fyzikálních, chemických i biologických laboratořích. SPM totiž umožňuje nahlížet do nanosvěta – dovoluje zobrazovat a charakterizovat povrchy vzorků na úrovni nanometrů (i menší).

Anglický abstrakt

Contemporary chemistry, physics, as well as biology frequently deal with the structure of matter at nanoscale level. One of the most important techniques used for imaging and measuring surfaces at the nanoscale (sometimes even with atomic resolution) is the scanning probe microscopy (SPM). SPM is an important up-and-coming technique in both academic sphere and industry. For this reason, concepts underlying SPM should be mentioned in secondary education, at least for students with an interest in science and technical subjects. In order to introduce SPM into secondary science education, various teaching approaches might be followed. In this contribution, special attention is paid to simple models and analogies of SPM to illustrate the basic SPM principles.

Klíčová slova

mikroskopie skenující sondou; skenovací tunelová mikroskopie; mikroskopie atomárních sil; modely; demonstrace; analogie; výukové materiály

Klíčová slova v angličtině

scanning probe microscopy; Scanning Tunneling Microscopy; atomic force microscopy; models; the demonstration; the analogy; teaching materials

Autoři

HÁJKOVÁ, Z.; FEJFAR, A.; LEDINSKÝ, M.; PÍČ, V.; KŘÍŽEK, F.; ŠULC, D.; NOVÁČEK, Z.; WERTHEIMER, P.

Vydáno

15. 1. 2016

ISSN

1213-7103

Periodikum

Chemické listy

Ročník

110

Číslo

1

Stát

Česká republika

Strany od

153

Strany do

159

Strany počet

7

URL

http://www.chemicke-listy.cz/ojs3/index.php/chemicke-listy/article/view/238

BibTex

@article{BUT123990,
  author="Zdeňka {Hájková} and Antonín {Fejfar} and Martin {Ledinský} and Vlastimil {Píč} and Filip {Křížek} and Dalibor {Šulc} and Zdeněk {Nováček} and Pavel {Wertheimer}",
  title="Přivítejte ve výuce mikroskopy se skenující sondou",
  journal="Chemické listy",
  year="2016",
  volume="110",
  number="1",
  pages="153--159",
  issn="1213-7103",
  url="http://www.chemicke-listy.cz/ojs3/index.php/chemicke-listy/article/view/238"
}