Detail publikace
Burst noise with normal distribution of characteristic times in sub-micron ultra-thin-oxide MOSFET´s
HRUŠKA, P., KOLÁŘOVÁ, R., ŠIKULA, J.
Originální název
Burst noise with normal distribution of characteristic times in sub-micron ultra-thin-oxide MOSFET´s
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
Statistical tests of the pulses have shown normal distribution rather than the Poisson one which expected.
Klíčová slova v angličtině
burst noise, sub-micro MOSFET
Autoři
HRUŠKA, P., KOLÁŘOVÁ, R., ŠIKULA, J.
Vydáno
14. 5. 2000
Nakladatel
IEEE
Místo
Niš
ISBN
0-7803-5235-1
Kniha
Proceedings of 22nd International conference on microelectronics
Strany od
387
Strany do
389
Strany počet
3
BibTex
@inproceedings{BUT12700,
author="Pavel {Hruška} and Renata {Horová} and Josef {Šikula}",
title="Burst noise with normal distribution of characteristic times in sub-micron ultra-thin-oxide MOSFET´s",
booktitle="Proceedings of 22nd International conference on microelectronics",
year="2000",
pages="3",
publisher="IEEE",
address="Niš",
isbn="0-7803-5235-1"
}