Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
HÁZE, J. HOFMAN, J.
Originální název
A novel temperature controller for in-situ measurement of radiation-induced changes in temperature effects on space electronics
Typ
článek v časopise ve Web of Science, Jimp
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
The paper discusses a novel temperature controller and a related test method allowing in-situ measurement of totalionising dose-induced changes in the impact of temperatureon electronic devices for space applications. Various results ofpilot radiation experiments (testing commercial PMOS transistors, RADFETs, and voltage references) are also presented.
Klíčová slova
automated test equipment, thermoelectric cooler, thermometers, test software, test methods, temperatureeffects, RADFET, TID, PMOS, temperature coefficients, MTC
Autoři
HÁZE, J.; HOFMAN, J.
Vydáno
15. 7. 2019
Nakladatel
FEI STU Bratislava
Místo
Bratislava
ISSN
1335-3632
Periodikum
Journal of Electrical Engineering
Ročník
70
Číslo
3
Stát
Slovenská republika
Strany od
227
Strany do
235
Strany počet
9
URL
http://iris.elf.stuba.sk/JEEEC/data/pdf/3_119-06.pdf
Plný text v Digitální knihovně
http://hdl.handle.net/11012/200886
BibTex
@article{BUT158044, author="Jiří {Háze} and Jiří {Hofman}", title="A novel temperature controller for in-situ measurement of radiation-induced changes in temperature effects on space electronics", journal="Journal of Electrical Engineering ", year="2019", volume="70", number="3", pages="227--235", doi="10.2478/jee-2019-0031", issn="1335-3632", url="http://iris.elf.stuba.sk/JEEEC/data/pdf/3_119-06.pdf" }