Detail publikace

Kvantitativní fázové měření plazmonických metapovrchů pomocí geometricko-fázové holografické mikroskopie

BOUCHAL, P. DVOŘÁK, P. BABOCKÝ, J. BOUCHAL, Z. LIGMAJER, F. HRTOŇ, M. KŘÁPEK, V. FAßBENDER, A. LINDEN, S. CHMELÍK, R. ŠIKOLA, T.

Originální název

Kvantitativní fázové měření plazmonických metapovrchů pomocí geometricko-fázové holografické mikroskopie

Anglický název

Quantitative phase imaging of plasmonic metasurfaces by geometric-phase holographic microscopy

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Článek popisuje novou metodu nekoherentní holografické mikroskopie založenou na využití moderních optických prvků pracujících na principu geometrické (Pancharatnam-Berryho) fáze. Metoda kombinuje výhody achromatické mimoosové holografie a robustní jednocestné interferometrie a umožňuje kvantitativně rekonstruovat retardaci vnesenou mezi ortogonální polarizační stavy. Těchto vlastností lze s výhodou využít ke studiu amplitudové a fázové odezvy plazmonických metapovrchů. Vysoká přesnost měření fáze plazmonických metapovrchů byla ověřena pomocí kalibračního metapovrchu a dále testovaná při zobrazení metapovrchové mřížky s frekvencí 833 čar/mm a vírových metapovrchů. Díky vysoké citlivosti použité metody jsme prokázali možnost kvantitativního měření fázové odezvy metapovrchů až na úrovni jejich jednotlivých stavebních bloků a to při zachování přesnosti měření pod 0,15 radiánu.

Anglický abstrakt

We report on a new method of incoherent holographic microscopy which is based on modern optical components using the geometric (Pancharatnam-Berry) phase. The proposed method combines advantages of achromatic off-axis holography and robust common-path interferometry and provides quantitative restoration of the phase retardance introduced between any orthogonal polarization states. This makes the method predestined for the study of the amplitude and phase response of plasmonic metasurfaces. The high accuracy of the phase restoration was verified on a benchmark metasurface and further tested using metasurface grating with frequency 833 lines/mm and vortex metasurfaces. Thanks to superior light sensitivity of the method, we successfully demonstrated widefield measurement of the phase altered by individual building blocks of the metasurface while maintaining the measurement precision well below 0.15 rad.

Klíčová slova

digitální holografická mikroskopie, kvantitativní fázové zobrazení, plazmonické metapovrchy, geometrická fáze

Klíčová slova v angličtině

digital holographic microscopy, quantitative phase imaging, plasmonic metasurfaces, geometric phase

Autoři

BOUCHAL, P.; DVOŘÁK, P.; BABOCKÝ, J.; BOUCHAL, Z.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; KŘÁPEK, V.; FAßBENDER, A.; LINDEN, S.; CHMELÍK, R.; ŠIKOLA, T.

Vydáno

1. 4. 2019

ISSN

0447-6441

Periodikum

Jemná mechanika a optika

Ročník

64

Číslo

4

Stát

Česká republika

Strany od

95

Strany do

98

Strany počet

4

URL

https://www.vutbr.cz/vav/vysledky/detail/159345?vav_id=159345

BibTex

@article{BUT159345,
  author="Petr {Bouchal} and Petr {Viewegh} and Jiří {Babocký} and Zdeněk {Bouchal} and Filip {Ligmajer} and Martin {Hrtoň} and Vlastimil {Křápek} and Alexander {Faßbender} and Stefan {Linden} and Radim {Chmelík} and Tomáš {Šikola}",
  title="Kvantitativní fázové měření plazmonických metapovrchů pomocí geometricko-fázové holografické mikroskopie",
  journal="Jemná mechanika a optika",
  year="2019",
  volume="64",
  number="4",
  pages="95--98",
  issn="0447-6441",
  url="https://www.vutbr.cz/vav/vysledky/detail/159345?vav_id=159345"
}