Detail publikace

Kriteria kvality STM a SNOM

Jaroslav Kala

Originální název

Kriteria kvality STM a SNOM

Anglický název

Criteria quality of STM and SNOM

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Článek je zaměřen na kriterium hodnocení metod STM a SNOM v nanotechnologii. Je zde pracováno s pojmem" počet stupňů volnosti", který je v článku brán jako základní měřítko kvality mikroskopů pracujících v blízkém poli.

Anglický abstrakt

The article is focused on an analysis of the general problem of quality criteria in near-field microscopy, i.e. the number of degrees of freedom. The principle of Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM) method and several terms from nanotechnology are also described.

Klíčová slova

STM, SNOM, Kvalita

Klíčová slova v angličtině

STM, SNOM, Quality

Autoři

Jaroslav Kala

Rok RIV

2005

Vydáno

1. 10. 2005

Nakladatel

Fakulta elektrotechnická, Západočeská universita v Plzni

Místo

Plzeň

ISBN

80-7043-375-2

Kniha

Elektrotechnika ainformatika 2005

Číslo edice

1

Strany od

31

Strany do

34

Strany počet

4

BibTex

@inproceedings{BUT15985,
  author="Jaroslav {Kala}",
  title="Kriteria kvality STM a SNOM",
  booktitle="Elektrotechnika ainformatika 2005",
  year="2005",
  volume="1",
  number="1",
  pages="4",
  publisher="Fakulta elektrotechnická, Západočeská universita v Plzni",
  address="Plzeň",
  isbn="80-7043-375-2"
}