Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
HÉGR, O. BOUŠEK, J.
Originální název
Depozice pasivačních vrstev SiNx a SiO2.
Anglický název
Deposition of SiNx and SiO2 passivation layers.
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
čeština
Originální abstrakt
In the semiconductor and photovoltaic application, the surface passivation is a very important process for adjustment of silicon surface properties. It brings reduction of recombination centers that arise from previous technology steps. The surface recombination is decreased and the effective lifetime is increased. For passivation layers deposition more methods are possible. The most important method is PECVD (Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition) and LPCVD (Low-Pressure Chemical Vapor Deposition). In this paper, deposition of the passivation layers by means of reactive magnetron sputtering is dealt.
Anglický abstrakt
Klíčová slova
povrchová pasivace, solární články, depozice SiN
Klíčová slova v angličtině
surface passivation, deposition
Autoři
HÉGR, O.; BOUŠEK, J.
Rok RIV
2005
Vydáno
12. 12. 2005
Nakladatel
nakl. Z. Novotný
Místo
Brno
ISBN
80-214-3116-4
Kniha
Mikrosyn. Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích
Číslo edice
1
Strany od
111
Strany do
116
Strany počet
6
BibTex
@inproceedings{BUT16434, author="Ondřej {Hégr} and Jaroslav {Boušek}", title="Depozice pasivačních vrstev SiNx a SiO2.", booktitle="Mikrosyn. Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích", year="2005", volume="2005", number="1", pages="6", publisher="nakl. Z. Novotný", address="Brno", isbn="80-214-3116-4" }