Detail produktu

Funkční vzorek testovací lavice pro vysokorychlostní detekci směru odraženého světla

DOSTÁL, Z.

Typ produktu

funkční vzorek

Abstrakt

Testovací lavice využívá DMD čip jako vysokorychlostní skener. Postupným promítáním série binárních masek tak postupně odráží části dopadajícího svazku. Jednotlivé části odraženého svazku reprezentují paprsek odražený od daného místa DMD čipu. Tento paprsek je fokusován čočkou na CMOS kameru. Z polohy dopadu lze spočítat úhel odraženého paprsku. Takto získané úhly reprezentují tvar vlnoplochy svazku po průchodu měřenou optickou soustavou.

Klíčová slova

DMD čip, vysokorychlostní skener, vlnoplocha, detekce, numerická rekonstrukce

Datum vzniku

1. 12. 2021

Umístění

Fakulta strojnÍho inženýrství, Ustav fyzikálního inženýrství, Technická 2896/2, budova A2

Možnosti využití

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

Licenční poplatek

Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek