Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
VANĚK, J., CHOBOLA, Z.
Originální název
Noise as a Diagnostic Tool for Quality of GaSb Laser Diodes
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
Transport and noise characteristic of forward biased 2.3 um CW GaSb laser diodes were measured in order to evaluate new technology.
Klíčová slova v angličtině
Noise,Laser diodes, GaSb
Autoři
Rok RIV
2006
Vydáno
14. 5. 2006
Nakladatel
Elekctron Devices Society
Místo
Belgrade, Serbia and Montenegro
ISBN
1-4244-0116-X
Kniha
25th International conference on Microelectronics
Strany od
307
Strany do
308
Strany počet
2
BibTex
@inproceedings{BUT19984, author="Jiří {Vaněk} and Zdeněk {Chobola}", title="Noise as a Diagnostic Tool for Quality of GaSb Laser Diodes", booktitle="25th International conference on Microelectronics", year="2006", pages="2", publisher="Elekctron Devices Society", address="Belgrade, Serbia and Montenegro", isbn="1-4244-0116-X" }