Detail publikace

Diagnostika a nejistoty měření

VDOLEČEK, F.

Originální název

Diagnostika a nejistoty měření

Anglický název

Diagnostics and Uncertainties in Measurement

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Základem objektivní diagnózy je získání diagnostických parametrů na příslušném stroji nebo zařízení. Tato operace je realizována pomocí měřicí techniky. Nepřesnost prvků měřicího řetězce je v dnešní době udávána pomocí nejistot měření. Příspěvek se zamýšlí nad vlivem těchto nejistot na technickou diagnostiku, především pak na výslednou diagnózu.

Anglický abstrakt

Extraction of diagnostic parameter on monitoring machine is fundament of objective diagnosis. The operation is executed by using measuring technique. Inaccuracy of members measuring circuit is determined by using uncertainties in measurement in the time. This paper is intended above effect this uncertainties on technical diagnostics and resultant diagnosis especially.

Klíčová slova

nejistota měření, technická diagnostika, zdroj nejistot

Klíčová slova v angličtině

uncertainties in measurement, technical diagnostics, source of uncertainties

Autoři

VDOLEČEK, F.

Rok RIV

2000

Vydáno

12. 4. 2000

Nakladatel

VUT v Brně - Academia centrum FT ve Zlíně

Místo

Zlín (Česká republika)

ISBN

80-214-1578-9

Kniha

TD 2000 - DIAGON 2000

Strany od

320

Strany do

325

Strany počet

6

BibTex

@inproceedings{BUT2025,
  author="František {Vdoleček}",
  title="Diagnostika a nejistoty měření",
  booktitle="TD 2000 - DIAGON 2000",
  year="2000",
  pages="6",
  publisher="VUT v Brně - Academia centrum FT ve Zlíně",
  address="Zlín (Česká republika)",
  isbn="80-214-1578-9"
}