Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
FIALA, A.
Originální název
Optimalizace systému managementu jakosti z hlediska metrologie
Anglický název
QUALITY MANAGEMENT SYSTEM BY METROLOGY OPTIMUM ASPECT.
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
čeština
Originální abstrakt
Efektivním systémem řízení měření se zajišťuje, že měřicí zařízení a procesy měření jsou vhodné pro jejich zamýšlené použití; systém je důležitým krokem při dosahování cílů jakosti výrobku. Cílem systému řízení měření je řídit riziko, kdy měřicí zařízení a procesy měření by mohly produkovat nesprávné výsledky, které by ovlivnily jakost výrobku organizace. Metody použité pro systém řízení měření se pohybují od ověřování základních zařízení až po aplikování statistických metod na proces měření. Organizace stanoví úroveň řízení potřebnou pro zajištění, že cíle jakosti budou dosaženy.
Anglický abstrakt
An effective measurement control system ensures that measuring equipment and measurement processes are fit for their intended use and is important in achieving product quality objectives. The objective of a measurement control system is to manage the risk that measuring equipment and measurement processes could produce incorrect results that would affect the quality of the organisations' product. The methods used for the measurement control system range from basic equipment verification to the application of statistical techniques in the measurement process. The organisation determines the level of control needed to ensure the achievement of its quality objectives.
Klíčová slova v angličtině
quality, management, system, metrology, optimum
Autoři
Rok RIV
2005
Vydáno
21. 10. 2005
Nakladatel
VUT v Brně
Místo
Brno
Strany od
17
Strany do
21
Strany počet
4
BibTex
@inproceedings{BUT20993, author="Alois {Fiala}", title="Optimalizace systému managementu jakosti z hlediska metrologie", booktitle="Sborník z konference GPS 2005", year="2005", pages="17--21", publisher="VUT v Brně", address="Brno" }