Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
ŠKARVADA, J.
Originální název
Optimalizace plánování testu číslicových systémů vzhledem k příkonu
Anglický název
Power constrained test scheduling optimization for digital systems
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
čeština
Originální abstrakt
Příspěvek se zabývá optimalizací plánování testu číslicových obvodů a to zejména optimalizací z hlediska příkonu obvodu během aplikace testu. V diagnostickém režimu činnosti obvodu lze totiž vysledovat zvýšený příkon oproti běžnému funkčnímu režimu činnosti obvodu. Použitím vhodných metod plánování testu je však možné příkon v diagnostickém režimu podstatně snížit. V praxi lze popisované postupy s výhodou uplatnit např. u číslicových obvodů napájených z baterií nebo u číslicových obvodů s vysokým stupněm integrace a s omezenými možnostmi chlazení
Anglický abstrakt
The paper deals with the test scheduling optimization for digital systems. There can be two modes of operation detected in digital systems - normal operation mode and test mode. As proven by experiments in the test mode there is generally higher power consumption than in normal operation mode. By using appropriate test scheduling methods it is possible to lower power consumption during the test to the acceptable level. In practice these methods could be used for digital systems powered from batteries and for digital systems with high level of integration and limited cooling capabilities.
Klíčová slova
plán testu, testování, příkon, optimalizace plánu testu, číslicový obvod
Klíčová slova v angličtině
test schedule, testing, power consumption, test schedule optimization, digital circuit
Autoři
Rok RIV
2006
Vydáno
18. 9. 2006
Nakladatel
Ústav informatiky Slovenskej akadémie vied
Místo
Bratislava
ISBN
80-9692-0227
Kniha
Sborník příspěvků pracovního semináře Počítačové architektury & diagnostika pro studenty doktorského studia
Strany od
143
Strany do
148
Strany počet
6
BibTex
@inproceedings{BUT22276, author="Jaroslav {Škarvada}", title="Optimalizace plánování testu číslicových systémů vzhledem k příkonu", booktitle="Sborník příspěvků pracovního semináře Počítačové architektury & diagnostika pro studenty doktorského studia", year="2006", pages="143--148", publisher="Ústav informatiky Slovenskej akadémie vied", address="Bratislava", isbn="80-9692-0227" }