Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
VANĚK, J. KAZELLE, J. CHOBOLA, Z. JURÁNKOVÁ, V.
Originální název
Passivation quality test by noise method
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
Transport and noise characteristic of forward biased monocrystalline silicon solar cells made by different passivation method were measured in order to evaluate new technology:
Klíčová slova
noise characteristic
Autoři
VANĚK, J.; KAZELLE, J.; CHOBOLA, Z.; JURÁNKOVÁ, V.
Rok RIV
2006
Vydáno
14. 9. 2006
Nakladatel
Ing.Zdeněk Novotný,CSc.
Místo
Brno
ISBN
80-214-3246-2
Kniha
Electronic Devices and Systems
Strany od
175
Strany do
178
Strany počet
4
BibTex
@inproceedings{BUT25071, author="Jiří {Vaněk} and Jiří {Kazelle} and Zdeněk {Chobola} and Vlasta {Juránková}", title="Passivation quality test by noise method", booktitle="Electronic Devices and Systems", year="2006", pages="175--178", publisher="Ing.Zdeněk Novotný,CSc.", address="Brno", isbn="80-214-3246-2" }