Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
SZENDIUCH, I. NOVOTNÝ, M. BARTOŇ, Z.
Originální název
Measurement Environment for Reliability Study of High Current First Level Measurement Environment for Reliability Study of High Current First Level Measurement Environment for Reliability Study of High Current First Level Interconnections
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
study of wire bonding connection for power chips
Klíčová slova
wire bonding for high current
Autoři
SZENDIUCH, I.; NOVOTNÝ, M.; BARTOŇ, Z.
Rok RIV
2007
Vydáno
23. 10. 2007
Místo
Cairo
ISBN
978-1-4244-1824-4
Kniha
Proceedings IDT'07
Číslo edice
1
Strany od
242
Strany do
245
Strany počet
4
BibTex
@inproceedings{BUT28219, author="Ivan {Szendiuch} and Marek {Novotný} and Zdeněk {Bartoň}", title="Measurement Environment for Reliability Study of High Current First Level Measurement Environment for Reliability Study of High Current First Level Measurement Environment for Reliability Study of High Current First Level Interconnections", booktitle="Proceedings IDT'07", year="2007", number="1", pages="242--245", address="Cairo", isbn="978-1-4244-1824-4" }