Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P.
Originální název
Makroskopické vysvětlení rozlišovací schopnosti rastrovacího optického tunelového mikroskopu
Anglický název
Macroscopic approach to the resolution of scanning near field optical microscope
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
čeština
Originální abstrakt
V članku je navržen model výpočtů obrazů získaných pomocí optického rastrovací mikroskopu s lokální sondou. Ukázali jsme, že příčné rozlišení není omezeno ani použitou vlnovou délkou ani délkou poklesu veanescentní vlny, nýbrž závisí pouze na vzdálenosti hrot sondy- předmět.
Anglický abstrakt
A model based on microscopic approach for calculationg the images obtained in scanning tunneling optical microscopy is proposed. We show that the lateral resolution is limited neither by the wavelength nor by decay length of the evanescent wave but that is determined by the tip-sample distance.
Klíčová slova v angličtině
scanning tunneling optical microscope, optical near-field, macroscopic approach, evanescent field, resolution
Autoři
Rok RIV
2001
Vydáno
15. 11. 2001
Nakladatel
Vysoké učení technické v Brně
Místo
Brno
ISBN
80-214-1992-X
Kniha
Nové trendy ve fyzice - New trends in Physics
Strany od
327
Strany do
332
Strany počet
6
BibTex
@inproceedings{BUT3035, author="Markéta {Benešová} and Pavel {Dobis} and Pavel {Tománek}", title="Makroskopické vysvětlení rozlišovací schopnosti rastrovacího optického tunelového mikroskopu", booktitle="Nové trendy ve fyzice - New trends in Physics", year="2001", pages="6", publisher="Vysoké učení technické v Brně", address="Brno", isbn="80-214-1992-X" }