Detail publikace

Makroskopické vysvětlení rozlišovací schopnosti rastrovacího optického tunelového mikroskopu

BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P.

Originální název

Makroskopické vysvětlení rozlišovací schopnosti rastrovacího optického tunelového mikroskopu

Anglický název

Macroscopic approach to the resolution of scanning near field optical microscope

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

V članku je navržen model výpočtů obrazů získaných pomocí optického rastrovací mikroskopu s lokální sondou. Ukázali jsme, že příčné rozlišení není omezeno ani použitou vlnovou délkou ani délkou poklesu veanescentní vlny, nýbrž závisí pouze na vzdálenosti hrot sondy- předmět.

Anglický abstrakt

A model based on microscopic approach for calculationg the images obtained in scanning tunneling optical microscopy is proposed. We show that the lateral resolution is limited neither by the wavelength nor by decay length of the evanescent wave but that is determined by the tip-sample distance.

Klíčová slova v angličtině

scanning tunneling optical microscope, optical near-field, macroscopic approach, evanescent field, resolution

Autoři

BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P.

Rok RIV

2001

Vydáno

15. 11. 2001

Nakladatel

Vysoké učení technické v Brně

Místo

Brno

ISBN

80-214-1992-X

Kniha

Nové trendy ve fyzice - New trends in Physics

Strany od

327

Strany do

332

Strany počet

6

BibTex

@inproceedings{BUT3035,
  author="Markéta {Benešová} and Pavel {Dobis} and Pavel {Tománek}",
  title="Makroskopické vysvětlení rozlišovací schopnosti rastrovacího optického tunelového mikroskopu",
  booktitle="Nové trendy ve fyzice - New trends in Physics",
  year="2001",
  pages="6",
  publisher="Vysoké učení technické v Brně",
  address="Brno",
  isbn="80-214-1992-X"
}