Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P.
Originální název
Ion Scattering Spectrosopy - A Tool for Surface Analysis.
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
Ion Scattering Spectroscopy (ISS) is one of the analytical techniques which are developed and used at the institute surface science group for chemical composition analysis of solid state surfaces and thin films. The chemical composition is calculated from the time of flight spectrum of noble gases ions scattered on the examined surfaces. Their energy after scattering is measured by two meters long drift tube ended by a particle detector. Two typical experimental results measured on Cu/SiO2 and Ga/SiO2 samples are discussed.
Klíčová slova v angličtině
ISS, ion scattering, TOF
Autoři
Rok RIV
2001
Vydáno
19. 9. 2001
Nakladatel
Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně
Místo
Brno
Strany od
86
Strany do
90
Strany počet
5
BibTex
@inproceedings{BUT3354, author="Stanislav {Průša} and Tomáš {Šikola} and Stanislav {Voborný} and Petr {Bábor}", title="Ion Scattering Spectrosopy - A Tool for Surface Analysis.", booktitle="Juniormat '01 sborník", year="2001", pages="5", publisher="Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně", address="Brno" }