Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
NOVOTNÝ, R.
Originální název
Zrychlené zkoušky v testování spolehlivosti součástek
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
čeština
Originální abstrakt
Článek prezentuje zrychlené zkoušky v komplexu problematiky zabezpečování spolehlivosti elektronických součástek.
Anglický abstrakt
The article presents accelerated stress testing in the reliability assurance of the electronic devices.
Klíčová slova v angličtině
accelerate tests, reliability, electronic devices, failure mechanisms
Autoři
Vydáno
1. 1. 2000
Místo
Brno
ISBN
80-214-1781-1
Kniha
20 let Ústavu mikroelektroniky FEI VUT
Strany od
165
Strany do
170
Strany počet
6
BibTex
@inproceedings{BUT3859, author="Radovan {Novotný}", title="Zrychlené zkoušky v testování spolehlivosti součástek", booktitle="20 let Ústavu mikroelektroniky FEI VUT", year="2000", pages="6", address="Brno", isbn="80-214-1781-1" }