Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
PORUBA, A., FEJFAR, A., SALYK, O., VANĚČEK, M., KOČKA, J.
Originální název
Surface and bulk scattering in microcrystalline silicon for solar cells
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
We present here an overview of the light scattering influence on absorption coefficient spectra alpha(E) measured by constant photocurrent method (CPM) and/or by photothermal deflection spectroscopy (PDS). We compare results of numerical simulation with the measured CPM and PDS spectra and verify our theory by polishing the as-grown nanotextured layes. We show that the experimentally observed apparent absorption coefficient can oveestimate the true alpha(E) by a factor 10.
Klíčová slova v angličtině
microcrastalline silicon, light scattering, solar cells
Autoři
Rok RIV
2002
Vydáno
1. 1. 2000
ISSN
0002-3093
Periodikum
Journal of Non-Crystalline Solids
Ročník
271
Číslo
1-2
Stát
Česká republika
Strany od
152
Strany do
155
Strany počet
4
BibTex
@article{BUT39899, author="Aleš {Poruba} and Antonín {Fejfar} and Ota {Salyk} and Milan {Vaněček} and Jan {Kočka}", title="Surface and bulk scattering in microcrystalline silicon for solar cells", journal="Journal of Non-Crystalline Solids", year="2000", volume="271", number="1-2", pages="4", issn="0002-3093" }