Detail publikace

Využití transportních a šumových charakteristik pro testování kvality fotovoltaických článků

VANĚK, J.

Originální název

Využití transportních a šumových charakteristik pro testování kvality fotovoltaických článků

Anglický název

Using of transport and noise characteristic in the testing of photovoltaic cells

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

viz anotace v angličtině

Anglický abstrakt

One of the method used in diagnostic and prediction of silicon solar cell reliability is based on the noise measurements of the cell or test structures. Where the faileres of the cell device in the beginning of opereting life are influeced by defects which are the results of rough errors in the manufacturing processes and these components can be removed during screening steps.

Klíčová slova v angličtině

solar cell, photovoltaics, diagnostic, noise, semiconductor, PN junction,U-I characteristics, U-C characteristics, contact noise, thermal noise, 1/f noise, simulation, thermografie

Autoři

VANĚK, J.

Vydáno

28. 1. 2003

Místo

Brno

ISBN

80-214-2351-X

Edice

Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně

Číslo edice

1

ISSN

1213-4198

Periodikum

Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně Edice PhD Thesis

Ročník

177

Číslo

3

Stát

Česká republika

Strany od

1

Strany do

26

Strany počet

26

URL

Ústav elektrotechnologie FEKT VUT v Brně

BibTex

@article{BUT41567,
  author="Jiří {Vaněk}",
  title="Využití transportních a šumových charakteristik pro testování kvality fotovoltaických článků",
  journal="Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně 
Edice PhD Thesis",
  year="2003",
  volume="177",
  number="3",
  pages="26",
  issn="1213-4198",
  url="Ústav elektrotechnologie FEKT VUT v Brně"
}