Detail publikace

Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli

BENEŠOVÁ, M. TOMÁNEK, P. LIŠKA, M.

Originální název

Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli

Anglický název

The influence of the probe tip-sample distance on the resolution of Scanning near-field optical microscope

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Základním problémem všech sondových mikroskopů je jejich příčná rozlišovací schopnost závisející zejména na rozměrech hrotu sondy a na její vzdálenosti od vzorku. Zkoumaný aperturní rastrovací mikroskop v optickém blízkém poli (SNOM) používá pokovenou vláknovou sondu s aperturou 60 nm. Vertikální vzdálenost sondy od předmětu je řízena pomocí střižných sil a nastavuje se pomocí programovatelného předpětí ve smyčce zpětné vazby sondy. Topografické obrazy mřížky získané v různých vzdálenostech jsou porovnány s AFM obrazem. Experimentální výsledky ukazují značnou závislost obrazů v blízkém poli na vzdálenosti sondy od vzorku. Zobrazovací charakteristiky SNOM jsou porovnány se spektrem prostorových frekvencí obrazu.

Anglický abstrakt

Better lateral resolution which depends on the tip dimensions and its distance from the sample is a main goal of all probe microscopes. The proposed aperture scanning near-field optical microscope (SNOM) uses a metallized probe with aperture diameter of 60 nm, the vertical position of which is controlled by regulation of the shear force loop current between the probe and the sample and by computer-generated bias voltage. The SNOM topographic images of the grating taken in several probe-sample distances are compared with AFM image. The experimental results demonstrate a strong dependence of the near-field image on the probe-sample distance. The comparison of near-field imaging characteristics with the spatial-frequency spectra of images are shown.

Klíčová slova

rastrovací mikroskopie v optickém blízkém poli, vzdálenost hrot-vzorek, rozlišení

Klíčová slova v angličtině

Scanning near-field optical microscopy, tip-sample distance, resolution

Autoři

BENEŠOVÁ, M.; TOMÁNEK, P.; LIŠKA, M.

Rok RIV

2004

Vydáno

5. 9. 2004

Nakladatel

FZÚ AV ČR

Místo

Praha

ISSN

0447-6441

Periodikum

Jemná mechanika a optika

Ročník

49

Číslo

9

Stát

Česká republika

Strany od

242

Strany do

244

Strany počet

3

BibTex

@article{BUT42112,
  author="Markéta {Benešová} and Pavel {Tománek} and Miroslav {Liška}",
  title="Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli",
  journal="Jemná mechanika a optika",
  year="2004",
  volume="49",
  number="9",
  pages="242--244",
  issn="0447-6441"
}