Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
HRNČIŘÍK, P., MULLEROVÁ, I.
Originální název
Very Low Energy Scanning Electron Microscope
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
An ultrahigh vacuum Scanning Electron Microscope with a Schottky field emission gun for surface analysis has been finished. The microscope is adapted to Auger spectroscopy and spectromicroscopy, SLEEM (Scanning Low Energy Electron Microscopy) and SLETEM (Scanning Low Energy Transmission Electron Microscopy).
Klíčová slova v angličtině
SLEEM, SLETEM, SEM, UHV
Autoři
Vydáno
1. 1. 2004
ISSN
1439-4243
Periodikum
GIT Imaging&Microscopy
Ročník
6
Číslo
4
Stát
Spolková republika Německo
Strany od
47
Strany do
49
Strany počet
3
BibTex
@article{BUT42285, author="Petr {Hrnčiřík} and Ilona {Müllerová}", title="Very Low Energy Scanning Electron Microscope", journal="GIT Imaging&Microscopy", year="2004", volume="6", number="4", pages="3", issn="1439-4243" }