Detail publikace

Very Low Energy Scanning Electron Microscope

HRNČIŘÍK, P., MULLEROVÁ, I.

Originální název

Very Low Energy Scanning Electron Microscope

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

An ultrahigh vacuum Scanning Electron Microscope with a Schottky field emission gun for surface analysis has been finished. The microscope is adapted to Auger spectroscopy and spectromicroscopy, SLEEM (Scanning Low Energy Electron Microscopy) and SLETEM (Scanning Low Energy Transmission Electron Microscopy).

Klíčová slova v angličtině

SLEEM, SLETEM, SEM, UHV

Autoři

HRNČIŘÍK, P., MULLEROVÁ, I.

Vydáno

1. 1. 2004

ISSN

1439-4243

Periodikum

GIT Imaging&Microscopy

Ročník

6

Číslo

4

Stát

Spolková republika Německo

Strany od

47

Strany do

49

Strany počet

3

BibTex

@article{BUT42285,
  author="Petr {Hrnčiřík} and Ilona {Müllerová}",
  title="Very Low Energy Scanning Electron Microscope",
  journal="GIT Imaging&Microscopy",
  year="2004",
  volume="6",
  number="4",
  pages="3",
  issn="1439-4243"
}