Detail publikace

Diagnostics of analogue integrated circuits

KOLAŘÍK, V., MUSIL, V.

Originální název

Diagnostics of analogue integrated circuits

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

Electronic Devices and Systems EDS 01. Noise and Non-Linearity Testing of Modern Electronics Components - Workshop. Proceedings

Klíčová slova v angličtině

electronics, integrated circuits, diagnostics, noise

Autoři

KOLAŘÍK, V., MUSIL, V.

Rok RIV

2001

Vydáno

12. 9. 2001

Nakladatel

Ing. Zdeněk Novotný, CSc.

Místo

Brno

ISBN

80-214-1960-1

Kniha

Electronic Devices and Systems EDS 01. Noise and Non-Linearity Testing of Modern Electronics Components - Workshop. Proceedings

Strany od

60

Strany do

67

Strany počet

8

BibTex

@inproceedings{BUT4536,
  author="Vladimír {Kolařík} and Vladislav {Musil}",
  title="Diagnostics of analogue integrated circuits",
  booktitle="Electronic Devices and Systems EDS 01. Noise and Non-Linearity Testing of Modern Electronics Components - Workshop. Proceedings",
  year="2001",
  pages="8",
  publisher="Ing. Zdeněk Novotný, CSc.",
  address="Brno",
  isbn="80-214-1960-1"
}