Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
VANĚK, J., CHOBOLA, Z.
Originální název
Low-frequency noise measurements used for semiconductor light active devices
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
Three different sets of semiconductors light active devices were by low noise diagnostic described. In the first set the low frequency noise of 2.3 microm CW GaSb based laser diodes was measured, in set II the noise characteristic of forward biased silicon monocrystalline solar cells were measured and in set III the noise characteristic of forward biased Si:H amorphous solar cells were measured.
Klíčová slova v angličtině
Noise spectroscopy
Autoři
Rok RIV
2005
Vydáno
24. 5. 2005
ISSN
0277-786X
Periodikum
Proceedings of SPIE
Ročník
Číslo
5844
Stát
Spojené státy americké
Strany od
86
Strany do
93
Strany počet
8
BibTex
@article{BUT46285, author="Jiří {Vaněk} and Zdeněk {Chobola} and Vladimír {Brzokoupil} and Jiří {Kazelle}", title="Low-frequency noise measurements used for semiconductor light active devices", journal="Proceedings of SPIE", year="2005", volume="2005", number="5844", pages="8", issn="0277-786X" }