Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L.
Originální název
Spectral measurements of semiconductor structures using optical near-field approach
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
The measurements of local photoluminescence, local photocurrent on GaAs/AlGaAs quantum wells under ambient temperature 300 K have been performed. The level of the locally induced signal in function excitation energy, probe-sample distance and sample position has been studied. The method is relevant to the study of the local defects, to evaluate the aging process of devices.
Klíčová slova
Semiconductor structures, quantum well, near-field, spectroscopy
Autoři
Rok RIV
2003
Vydáno
25. 4. 2002
Nakladatel
KU Leuven, COST 523
Místo
Leuven, Belgie
Strany od
P55
Strany počet
1