Detail publikace

VÝZKUM VLASTNOSTÍ NELINEÁRNÍCH KAPACITORŮ V TECHNOLOGII CMOS

SUTORÝ, T.

Originální název

VÝZKUM VLASTNOSTÍ NELINEÁRNÍCH KAPACITORŮ V TECHNOLOGII CMOS

Anglický název

Research of capacitor properties in CMOS technology

Typ

výzkumná zpráva

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Cílem projektu je vytvoření metodiky měření integrovaných nelineárních kondenzátorů a vývoj měřícího zařízení pro testovací čip ovládaného z počítače typu PC určeného k tomuto účelu.

Anglický abstrakt

The target of project is to create methodology of nonlinear capacitors characterization on chip and developing a measurement equipment controled by PC.

Klíčová slova v angličtině

MOS capacitors characterization, measurement equipment

Autoři

SUTORÝ, T.

Rok RIV

2005

Vydáno

1. 1. 2005

Místo

Brno

Strany od

1

Strany do

16

Strany počet

16

BibTex

@techreport{BUT57557,
  author="Tomáš {Sutorý}",
  title="VÝZKUM VLASTNOSTÍ NELINEÁRNÍCH KAPACITORŮ V TECHNOLOGII CMOS",
  year="2005",
  address="Brno",
  series="1",
  pages="16"
}