Detail publikace

Konduktometrické snímače

HUBÁLEK, J.

Originální název

Konduktometrické snímače

Typ

audiovizuální tvorba

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

Presented results show possibilities of precise measurement with planar sensors, fabricated by thick-film technology to relaize comb-like planar structure. Impedance behavior of these sensors is different in comparision with theory. Some dependencies can be shown. High influence has parallel capacitance of the planar electrodes. Development of precise method for measurement is focused on modified method of bipolar pulse technique and its realisation as CMOS chip.

Klíčová slova

tlustovrstvá čidla, impedance elektrod, planární struktura, hřenínková struktura, vodivostní měření, mikrosensor, metoda bipolárního impulsu

Klíčová slova v angličtině

thick-film sensors, electrode interface impedance , planar structure, comb-like structure, conductivity measurement, microsensor, bipolar pulse method

Autoři

HUBÁLEK, J.

Rok RIV

2003

Vydáno

31. 12. 2002

URL

UMEL

BibTex

@misc{BUT63594,
  author="Jaromír {Hubálek}",
  title="Konduktometrické snímače",
  year="2002",
  url="UMEL",
  note="presentation"
}