Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
HUBÁLEK, J.
Originální název
Konduktometrické snímače
Typ
audiovizuální tvorba
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
Presented results show possibilities of precise measurement with planar sensors, fabricated by thick-film technology to relaize comb-like planar structure. Impedance behavior of these sensors is different in comparision with theory. Some dependencies can be shown. High influence has parallel capacitance of the planar electrodes. Development of precise method for measurement is focused on modified method of bipolar pulse technique and its realisation as CMOS chip.
Klíčová slova
tlustovrstvá čidla, impedance elektrod, planární struktura, hřenínková struktura, vodivostní měření, mikrosensor, metoda bipolárního impulsu
Klíčová slova v angličtině
thick-film sensors, electrode interface impedance , planar structure, comb-like structure, conductivity measurement, microsensor, bipolar pulse method
Autoři
Rok RIV
2003
Vydáno
31. 12. 2002
URL
UMEL
BibTex
@misc{BUT63594, author="Jaromír {Hubálek}", title="Konduktometrické snímače", year="2002", url="UMEL", note="presentation" }