Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail produktu
MACKŮ, R. ŠKARVADA, P.
Typ produktu
software
Abstrakt
Jednou z možností jak získat informace o kvalitě pn přechodu nedestruktivní cestou je sledování mikroplazmatického šumu. Mikroplazmatický šum se typicky vyskytuje v polovodičových zařízeních využívajících ke své činnosti pn přechod jako například usměrňovací diody, LED diody a solární články. Měření mikroplazmatického šumu pro měření solárních článků je relativně složité. Komplikace přinášejí především nízké úrovně měřených signálů, teplotní závislosti a velká náchylnost na rušení. Pro účely měření byl vyvinut obslužný software. Tento software nachází uplatnění tam kde je nezbytné precizní, rychlé a automatizované měření. Měření šumových proudů a VA charakteristik je prováděno současně a řeší tak problém s teplotní závislostí vzorku.
Klíčová slova
VA-charakteristika, úzkopásmový šumový signál, pn přechod, solární článek
Datum vzniku
9. 8. 2008
Umístění
Laboratoře UFYZ
Možnosti využití
K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence
Licenční poplatek
Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek
www
http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/index.php?lang=1&page=86