Detail publikace

Optika a mikroskopie v blízkém poli

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., LÉTAL, P.

Originální název

Optika a mikroskopie v blízkém poli

Anglický název

Near-field optics and microscopy

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Rastrovací optická mikroskopie v blízkém poli (Scanning Near-field Optical Microscopy - SNOM) v sobě kombinuje ještě nedoceněný potenciál a technologii rastrovacích mikroskopů s lokální sondou s výkonností optických mikroskopů. SNOM spojuje skvělé spektroskopické a časové rozlišení klasických optických mikroskopů s příčnou rozlišovací schopností často lepší než 100 nm. V tomto přehledu jsou popsány základní principy SNOM s aperturními sondami a některé z jeho aplikací: vliv polarizace na kvalitu obrazů, magnetické obrazy, lokální charakterizace fotonických součástek, polovodičů a defektů struktur. Tyto příklady ukazují, že SNOM poskytuje pohled do nanosvěta a není již jen pouhou raritou, nýbrž dozrává a stává se plnohodnotným nástrojem nedestruktivního bezkontaktního měření a manipulace.

Anglický abstrakt

Scanning Near-field Optical Microscopy - SNOM -combines a potential and technology of scanninh microsocpes with the performance of optical microscopes. SNOM takes together splendid spectroscopic and time-domain features with the resolution better than 100 nm. This review describes the fundamentals and some applications of SNOM: polarization contrast in images, magnetooptical figures, local characteristics of optoelectronic devices, semiconductors and deffects in structure. All these exemples show that the microscope is powerful tool for the local surface characterization.

Klíčová slova

optická mikroskopie, vzdálené pole, blízké pole, evanescentní vlny, rastrovací mikroskop v blízkém poli, lokální charakteristiky

Klíčová slova v angličtině

optical microscopy, far field, near field, evanescent waves, SNOM, local characteristics

Autoři

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., LÉTAL, P.

Rok RIV

2003

Vydáno

11. 9. 2003

Nakladatel

Vojenská akademie Brno

Místo

Brno

ISBN

80-85960-51-6

Kniha

3.konference o Matematice a fyzice na vysokých školách technických

Edice

Neuveden

Číslo edice

Neuveden

Strany od

20

Strany do

28

Strany počet

9

BibTex

@inproceedings{BUT8263,
  author="Pavel {Tománek} and Markéta {Benešová} and Dana {Otevřelová} and Petr {Létal}",
  title="Optika a mikroskopie v blízkém poli",
  booktitle="3.konference o Matematice a fyzice na vysokých školách technických",
  year="2003",
  series="Neuveden",
  volume="Neuveden",
  number="Neuveden",
  pages="9",
  publisher="Vojenská akademie Brno",
  address="Brno",
  isbn="80-85960-51-6"
}