Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail produktu
CHVÁTAL, M. MAJZNER, J. GRMELA, L.
Typ produktu
software
Abstrakt
Tento software byl navržen za účelem optimalizace a automatizace měření stejnosměrných charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET s různými rozměry kanálů na héliovém kryostatu v širokém teplotním rozsahu od 60 do 300 K.
Klíčová slova
Héliový kryostat, submikronový tranzistor MOSFET, výstupní a převodní charakteristika, polovodičový tester Keithley 4200SC, automatizace, LabVIEW.
Datum vzniku
18. 12. 2012
Umístění
http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/automatizace-mereni-vystupnich-charakteristik-submikronovych-tranzistoru-MOSFET-v-heliovem-kryostatu
Možnosti využití
Využití výsledku jiným subjektem je možné bez nabytí licence (výsledek není licencován)
Licenční poplatek
Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek
www