Detail publikace

Analysis of thin films by TOF LEIS

PRŮŠA, S., KOLÍBAL, M., BÁBOR, P., MACH, J., JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T.

Originální název

Analysis of thin films by TOF LEIS

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

Structural analysis using TOF LEIS.

Klíčová slova v angličtině

TOF LEIS, Ga, thin films

Autoři

PRŮŠA, S., KOLÍBAL, M., BÁBOR, P., MACH, J., JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T.

Rok RIV

2003

Vydáno

23. 6. 2003

Nakladatel

EVC

Místo

Berlin

Strany od

133

Strany do

134

Strany počet

2

BibTex

@inproceedings{BUT11057,
  author="Stanislav {Průša} and Miroslav {Kolíbal} and Petr {Bábor} and Jindřich {Mach} and Patrik {Jurkovič} and Tomáš {Šikola}",
  title="Analysis of thin films by TOF LEIS",
  booktitle="EVC'03 Abstracts",
  year="2003",
  pages="2",
  publisher="EVC",
  address="Berlin"
}