Detail publikace

Prognóza spolehlivosti rezistorů z měření nízkofrekvenčního šumu

SCHAUER, P., ŠIKULA, J.

Originální název

Prognóza spolehlivosti rezistorů z měření nízkofrekvenčního šumu

Anglický název

Prediction reliability of resistors from low frequency noise

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Autoři

SCHAUER, P., ŠIKULA, J.

Rok RIV

1997

Vydáno

1. 1. 1997

Nakladatel

Slovenská technická univerzita v Bratislave

Místo

Bratislava

Strany od

113

Strany do

118

Strany počet

6

BibTex

@inproceedings{BUT1207,
  author="Pavel {Schauer} and Josef {Šikula}",
  title="Prognóza spolehlivosti rezistorů z měření nízkofrekvenčního šumu",
  booktitle="Výskumné aktivity katedier fyziky na stavebných fakultách v",
  year="1997",
  pages="6",
  publisher="Slovenská technická univerzita v Bratislave",
  address="Bratislava"
}