Detail publikace

Burst noise with normal distribution of characteristic times in sub-micron ultra-thin-oxide MOSFET´s

HRUŠKA, P., KOLÁŘOVÁ, R., ŠIKULA, J.

Originální název

Burst noise with normal distribution of characteristic times in sub-micron ultra-thin-oxide MOSFET´s

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

Statistical tests of the pulses have shown normal distribution rather than the Poisson one which expected.

Klíčová slova v angličtině

burst noise, sub-micro MOSFET

Autoři

HRUŠKA, P., KOLÁŘOVÁ, R., ŠIKULA, J.

Vydáno

14. 5. 2000

Nakladatel

IEEE

Místo

Niš

ISBN

0-7803-5235-1

Kniha

Proceedings of 22nd International conference on microelectronics

Strany od

387

Strany do

389

Strany počet

3

BibTex

@inproceedings{BUT12700,
  author="Pavel {Hruška} and Renata {Horová} and Josef {Šikula}",
  title="Burst noise with normal distribution of characteristic times in sub-micron ultra-thin-oxide MOSFET´s",
  booktitle="Proceedings of 22nd International conference on microelectronics",
  year="2000",
  pages="3",
  publisher="IEEE",
  address="Niš",
  isbn="0-7803-5235-1"
}