Detail publikace

Elektromigrace na elektronických sestavách

STARÝ, J.

Originální název

Elektromigrace na elektronických sestavách

Anglický název

Elektromigration in Electronic Assemblies

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Vysvělení elektromigrace a kategorizace. Vnější podmínky urychlující elektromigraci. Podrobněji řešena iontová elektromigrace s růstem dendritů i anodických vláken (CAF) v základním materiálu DPS. Popsány chemické reakce.

Anglický abstrakt

Explanation of elektromigration and categorization. External conditions which accelerates electromigration. Description in more details ionic electromigration - dendrites and growth, the and Conductive Anodic Filaments (CAF) in the base material of PCB. Chemical reactions are described.

Klíčová slova

elektrochemická migrace, CAF (růst anodických vláken), zkušební DPS dle IPC B-25, spolehlivost DPS

Klíčová slova v angličtině

electrochemical migration, CAF (Cathodic Anodic Filament), PCB test boards acc. to IPC B- 25 standards, PCB reliability

Autoři

STARÝ, J.

Vydáno

19. 10. 2016

ISSN

1211-6947

Periodikum

Bulletin of SMT/ISHM Int. Conference "New Trends in Microelectronics"

Číslo

80

Stát

Česká republika

Strany od

33

Strany do

36

Strany počet

4

BibTex

@article{BUT131452,
  author="Jiří {Starý}",
  title="Elektromigrace na elektronických sestavách",
  journal="Bulletin of SMT/ISHM Int. Conference {"}New Trends in Microelectronics{"}",
  year="2016",
  number="80",
  pages="33--36",
  issn="1211-6947"
}