Detail publikace

Fast wavelength-scanning interferometry technique with derivattive detection of quadrature signals

ČÍP, O., MIKEL, B.

Originální název

Fast wavelength-scanning interferometry technique with derivattive detection of quadrature signals

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

We present a laser interferometer...

Klíčová slova v angličtině

Wavelength scanning interferometry, absolute interferometry, tunable laser

Autoři

ČÍP, O., MIKEL, B.

Vydáno

1. 1. 2006

Nakladatel

SPIE

Místo

Washington

ISBN

0-6194-62244-6

Kniha

Optical Micro- and Nanometrolgy in Microsystems Technology

Strany od

6188

Strany do

6194

Strany počet

7

BibTex

@inproceedings{BUT18927,
  author="Ondřej {Číp} and Břetislav {Mikel} and Josef {Lazar}",
  title="Fast wavelength-scanning interferometry technique with derivattive detection of quadrature signals",
  booktitle="Optical Micro- and Nanometrolgy in Microsystems Technology",
  year="2006",
  pages="7",
  publisher="SPIE",
  address="Washington",
  isbn="0-6194-62244-6"
}