Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
J.Boušek
Originální název
Dynamické testování solárních článků.
Anglický název
Dynamic testing of solar cells
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
čeština
Originální abstrakt
Characterization of solar cells based on evaluation of solar cell response to fast transients is described. The measurement and evaluation procedure is very simple and no expensive devices are needed. The parameters as the reverse breakdown voltage, depletion layer width and capacitance, serial and parallel resistance and minority carrier lifetime can be acquired easily. To cancel the influence of the depletion layer capacitance a voltage bias in the range 400 – 500 mV was used. The voltage bias was made with dark current bias or with light bias. The measurement and evaluation scheme is given and some parameters of different quality solar cells are discussed.
Klíčová slova
solar cells, reverse breakdown voltage, minority carrier lifetime, recombination, diffusion capacitance
Autoři
Rok RIV
2005
Vydáno
15. 12. 2005
Nakladatel
Nakl. Novotný
Místo
Brno
ISBN
80-214-3116-4
Kniha
Mikrosyn. Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích. Sborník seminare
Strany od
168
Strany do
173
Strany počet
6
BibTex
@inproceedings{BUT20900, author="Jaroslav {Boušek}", title="Dynamické testování solárních článků.", booktitle="Mikrosyn. Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích. Sborník seminare", year="2005", pages="6", publisher="Nakl. Novotný", address="Brno", isbn="80-214-3116-4" }