Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
SEKANINA, L.
Originální název
Design and Analysis of a New Self-Testing Adder Which Utilizes Polymorphic Gates
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
TBD
Klíčová slova
digital circuit, polymorphic gate, adder, testing
Autoři
Rok RIV
2007
Vydáno
19. 4. 2007
Nakladatel
IEEE Computer Society
Místo
Gliwice
ISBN
1424411610
Kniha
2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
Strany od
243
Strany do
246
Strany počet
4
BibTex
@inproceedings{BUT28586, author="Lukáš {Sekanina}", title="Design and Analysis of a New Self-Testing Adder Which Utilizes Polymorphic Gates", booktitle="2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems", year="2007", pages="243--246", publisher="IEEE Computer Society", address="Gliwice", isbn="1424411610" }