Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
NOVOTNÝ, R.
Originální název
Analýzy vad při zabezpečování spolehlivosti elektronických součástek
Anglický název
Failure analysis of the electronic devices
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
čeština
Originální abstrakt
Cíl nulového počtu neshod a komplexnost ve výrobě elektronických součástek vytváří požadavky, že spolehlivost a vysoká technologický výtěžnost musí být hodnocena. Analýza vad napomáha indentifikování potenciálních problémů se spolehlivostí, které mohou být eliminovány.
Anglický abstrakt
The achievement of zero failures and the complexity of the integrated circuit implies that reliability and high manufacturing yield must be evaluated. Failure analysis can identify potencial reliability problems, which may then be eliminated.
Klíčová slova v angličtině
Reliability, quality, electronic devices, reliability improvement, failure rate, failure analysis.
Autoři
Vydáno
29. 6. 2001
ISSN
1213-1539
Periodikum
Elektrorevue - Internetový časopis (http://www.elektrorevue.cz)
Ročník
28/2001
Číslo
6
Stát
Česká republika
Strany od
1
Strany do
9
Strany počet
URL
http://www.elektrorevue.cz
BibTex
@article{BUT40110, author="Radovan {Novotný}", title="Analýzy vad při zabezpečování spolehlivosti elektronických součástek", journal="Elektrorevue - Internetový časopis (http://www.elektrorevue.cz)", year="2001", volume="28/2001", number="6", pages="9", issn="1213-1539", url="http://www.elektrorevue.cz" }